Siegfried Werth-Stiftung

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Dr.- Ing. Siegfried Werth Stiftung[Bearbeiten]

Dr.-Ing. Siegfried Werth gründete 1951 eine Apparate- und Maschinenbaufirma in Düsseldorf, die Messgeräte und Messprofilprojektoren herstellte. 1958 siedelte das Unternehmen nach Gießen um, wo eine neue Fertigungsstätte errichtet wurde. 1979 wurde die Gesellschaft in Dr.-Ing. Siegfried Werth GmbH umfirmiert. Nach dem Tod von Herrn Dr.-Ing. Siegfried Werth wurde von seiner Witwe, Frau C.H. Maria Werth, zum Gedenken an die zukunftsweisenden Entwicklungsarbeiten ihres Mannes und seines Lebenswerkes auf dem Gebiet der industriellen Messtechnik im Jahr 1987 eine zunächst nicht rechtsfähige Stiftung unter dem Namen

Dr.- Ing. Siegfried Werth Stiftung

ins Leben gerufen, die 1995 in eine rechtsfähige, gemeinnützige Stiftung übergleitet wurde.

Sitz und Anschrift der Stiftung: 35394 Gießen, Siemensstr. 19.

Zweck der Stiftung ist die Förderung[1] und Finanzierung wissenschaftlicher Arbeiten auf dem Gebiet der berührungslosen dimensionalen Messtechnik. Der Stiftungszweck wird insbesondere durch die Prämierung von wissenschaftlichen Arbeiten von Nachwuchswissenschaftlern nach Erlangung des ersten akademischen Grades auf dem Gebiet der industriellen Messtechnik oder verwandten Gebieten oder durch Vergabe von Forschungsaufträgen einschließlich Promotionsvorhaben an begabte Nachwuchswissenschaftler erfüllt.

Organ der Stiftung Einziges Organ der Stiftung ist das Kuratorium. Ihm gehören vier ehrenamtliche Kuratoren an, aus deren Mitte der Vorsitzende des Kuratoriums für eine Amtszeit von 5 Jahren gewählt wird und der die Stiftung gemeinsam mit einem weiteren Mitglied in allen gerichtlichen wie auch außergerichtlichen Angelegenheiten vertritt.


Die Preisträger und Geförderten[Bearbeiten]

Entsprechend dem Stiftungszweck wurden folgende jungen Wissenschaftler mit Preisen der Dr.-Ing. Siegfried Werth Stiftung ausgezeichnet, oder Ihre wissenschaftliche Entwicklung durch Stipendien gefördert:

*2011 Dr. Marco Hornung, Friedrich-Schiller-Universität Jena

Preis der Dr.-Ing. Siegfried Werth Stiftung für hervorragende Dissertationen
„Mosaik-Gitter-Kompressor für Femtosekunden-Laserimpulse hoher Energie“

*2010 Daniel Weigel, Friedrich-Schiller-Universität Jena

Preis der Dr.-Ing. Siegfried Werth Stiftung für hervorragende Master- bzw. Diplomarbeiten
„Auflösungssteigerung bei optischen Rastermikroskopen mit Hilfe eines bildinvertierenden Interferometers“

*2008 Andreas Gläser, Westsächsische Hochschule Zwickau

- Promotionsstipendium -

*2006 Jens Pannekamp, Fraunhofer IPA, Stuttgart

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
"Adaptive Verfahren zur Bewertung texturierter Oberflächen"

*2005 Marcus Petz, Technische Universität Braunschweig

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
„Rasterreflexions-Photogrammetrie zur Messung spiegelnder Oberflächen“

*2003 Bodo Rosenhahn, Christian-Albrechts-Universität zu Kiel

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
„Pose Estimation Revisited“

*2001 Simon Winkelbach, Technische Universität Braunschweig

Marcus Jacob, Fachhochschule Jena
Oliver Gächter / Roger Caviezel, Hochschule für Technik Buchs, Schweiz
Sonderpreise zum 50-jährigen Firmenjubiläum der Werth Messtechnik GmbH

*2000 Horst Konstantin Mischo, Fraunhofer Institut Aachen

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
„Das Virtuelle Interferometer – Modellgestützte Optimierung“
Professor Dr.-Ing. Thomas Luhmann, Fachhochschule Odenburg
Sonderpreis
„Nahbereichs-Photogrammetrie“

*1998 Ralph Peter Knorpp, Fraunhofer Institut, Stuttgart

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
„Formleitlinien für die Flächenrückführung Extraktion von Kanten und Radiusauslauflinien aus unstrukturierten 3D-Meßpunktmengen“

*1996 Edgar Reiner Fischer, Universität Stuttgart

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
„Doppelheteroyn-Interferometrie zur Profil- und Abstandsmessung an optisch rauhen Oberflächen"

*1994 Christian Troll / Dipl. Ing. Uwe Kipping, TU Chemnitz-Zwickau

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
„Transformationsmeßsysteme mit Auswertung von Strichcodestrukturen zur absoluten Weg- und Winkelmessung“

*1991 Thomas Sefker, Universität GHS Essen

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
„Verallgemeinerte Darstellung des Verhaltens isothermer Freistrahlen“

*1990 Reimar Lenz, TU München

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
„Entwicklung einer hochauflösenden CCD-Kamera mit programmierbarer Auflösung“

*1988 Wolfgang Rauh, Fraunhofer IPA, Stuttgart

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
„Integration der Bildverarbeitung in Profilprojektoren“

Einzelnachweise[Bearbeiten]

  1. Werth Messtechnik: Hauszeitschrift 'Der Multisensor' vom September 2008, Seite 1. Abgerufen am 6. Juli 2011.
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